Équipement d'inspection des semi-conducteurs

L'équipement d'inspection des semi-conducteurs MPC est un système d'élimination de la poussière sec entièrement automatique pour les capteurs d'image CMOS. Il est équipé d'une caméra haute résolution qui peut identifier les matières étrangères des particules ultrafines et guider le mécanisme de collage de la poussière pour effectuer l'élimination de la poussière directionnelle de haute précision. Il peut éliminer les matières étrangères supérieures à 700 nm sur le substrat / capteur. La machine est équipée d'un module servo à grande vitesse. Les stations simples / doubles peuvent être sélectionnées en fonction de la capacité de production. La capacité de production maximale est supérieure à 5000 pc / h. Il peut sortir des rapports et générer des diagrammes de carte. Dans le même temps, les données peuvent être téléchargées sur le système MES du client.

Détection et nettoyage partiels, détection de DB

● Semi-conducteur (module optique, plaquette)

● Industrie des emballages et tests semi-conducteurs (capteur, filtre IR, tests IC, module d'empreintes digitales)

L'équipement d'inspection des semi-conducteurs MPC peut améliorer considérablement l'efficacité de la production et le rendement, remplacer l'échantillonnage manuel traditionnel et est particulièrement adapté à la fabrication par lots de produits à valeur ajoutée. Si vous avez besoin d'une solution plus efficace, veuillez consulter Huizhou Zhongke Advanced Manufacturing Co., Ltd.

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● Detection Accuracy: >0.6μm

● Floating Dust Removal Rate: >99.9%